技術文章
更新時間:2020-10-13
點擊次數(shù):4640
隨著技術的發(fā)展,光學薄膜的光學性能也在廠家的不斷提高,市場需要更好的產(chǎn)品,其中在液晶面板吃起的成產(chǎn)中,也液晶貼的的一層膜的配向角度的優(yōu)良很大程度上影響生產(chǎn)出來的液晶面板的顯示效果的好壞。關于如何了解這一層配向膜(PI)的配向角度,研發(fā)人員一直沒有合適設備來測量, 近期,日本的phl廠家?guī)硪豢钔ㄟ^測量雙折射的方法來檢測配向角度的設備。
測量示例:
通過WPA-200的檢測,可以知道產(chǎn)品的雙折射大小和方向,內應力的分布情況,在經(jīng)過分析得到數(shù)據(jù)。
關于我們
公司簡介 企業(yè)文化產(chǎn)品分類
無掩模光刻系統(tǒng) 微區(qū)取樣系統(tǒng) 顯微鏡系列設備新聞文章
新聞中心 技術文章聯(lián)系我們
聯(lián)系方式 在線留言 地圖導航010-69798892
(全國服務熱線)北京市昌平區(qū)回龍觀西大街115號龍冠大廈614室
17600738803@163.com
關注公眾號
Copyright © 2026北京歐屹科技有限公司 All Rights Reserved 工信部備案號:京ICP備15048507號-3
技術支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml