雙折射測(cè)量?jī)xPA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x，PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm，可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。

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更新時(shí)間：2026-01-16

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雙折射測(cè)量?jī)x

應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xPA系列應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)xWPA系列顯微型雙折射測(cè)量?jī)x 晶圓應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x 在線型應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x 偏振相機(jī) 膜厚測(cè)量?jī)x

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Photonic Lattice應(yīng)力雙折射儀：高效測(cè)量應(yīng)力雙折射的創(chuàng)新工具

應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x的核心組成裝置

應(yīng)力雙折射測(cè)量?jī)x：高效精準(zhǔn)的應(yīng)力檢測(cè)利器

產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,航空航天

雙折射測(cè)量?jī)xPA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測(cè)量?jī)x，PA系列測(cè)量雙折射測(cè)量范圍達(dá)0-130nm，可以測(cè)量的樣品范圍從幾個(gè)毫米到近500毫米。PA系列雙折射測(cè)量?jī)x以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片，雙折射算法設(shè)計(jì)制造，得到每片樣品僅需幾秒鐘的測(cè)量能力，使其成為業(yè)內(nèi)，特別是工業(yè)界雙折射測(cè)量/應(yīng)力測(cè)量的選擇。

雙折射測(cè)量?jī)xPA-300-L主要特點(diǎn)：

操作簡(jiǎn)單，測(cè)量速度可以快到3秒。
視野范圍內(nèi)可一次測(cè)量，測(cè)量范圍廣。
更直觀的全面讀取數(shù)據(jù)，無(wú)遺漏數(shù)據(jù)點(diǎn)。
具有多種分析功能和測(cè)量結(jié)果的比較。
維護(hù)簡(jiǎn)單，不含旋轉(zhuǎn)光學(xué)濾片的機(jī)構(gòu)。
高達(dá)2056x2464像素的偏振相機(jī)。

雙折射測(cè)量?jī)xPA-300-L應(yīng)用領(lǐng)域：

光學(xué)鏡片
智能手機(jī)玻璃基板
藍(lán)寶石、硅晶圓
人工晶體等等

技術(shù)參數(shù)：

項(xiàng)次	項(xiàng)目	具體參數(shù)
1	輸出項(xiàng)目	相位差【nm】，軸方向【°】，相位差與應(yīng)力換算（選配）【MPa】

2	測(cè)量波長(zhǎng)	520nm

3	雙折射測(cè)量范圍	0-130nm

4	測(cè)量最小分辨率	0.001nm

5	測(cè)量重復(fù)精度	<1nm

6	視野尺寸	40x48mm到240x320mm（標(biāo)準(zhǔn)）

7	選配鏡頭視野	不適用

8	選配功能	實(shí)時(shí)解析軟件，鏡片解析軟件，數(shù)據(jù)處理軟件，實(shí)現(xiàn)外部控制