產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置:首頁
產(chǎn)品中心
雙折射測量儀
應(yīng)力雙折射測量儀PA系列
產(chǎn)品分類
WPA系列是Photoniclattic公司采用自研的光子晶體技術(shù),開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備,可測量相位差(光程差)高達(dá)3500nm,Photonic lattice應(yīng)力雙折射儀WPA-200L適合注塑成型的透光器件的應(yīng)力雙折射檢測,數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。
WPA系列是Photoniclattice公司采用自研的光子晶體技術(shù),開發(fā)的一款適用性高的應(yīng)力雙折射檢測設(shè)備,可測量相位差(光程差)高達(dá)3500nm,PHL應(yīng)力雙折射測量儀WPA-200L適合注塑成型的透光器件的應(yīng)力雙折射檢測,數(shù)秒給出被測產(chǎn)品的應(yīng)力雙折射大小和分布信息。
內(nèi)應(yīng)力測量儀PA-300-XL是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,高精度同步協(xié)調(diào)的雙折射算法設(shè)計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-300-MT是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。PA系列雙折射測量儀以其技術(shù)的光子晶體偏光陣列片,*的雙折射算法設(shè)計制造,得到每片樣品僅需幾秒鐘的測量能力,使其成為業(yè)內(nèi),特別是工業(yè)界雙折射測量/應(yīng)力測量的選擇。
雙折射測量儀PA-300-L是日本Photonic lattice公司傾力打造的雙折射/應(yīng)力測量儀,PA系列測量雙折射測量范圍達(dá)0-130nm,可以測量的樣品范圍從幾個毫米到近500毫米。
應(yīng)力雙折射儀-應(yīng)用3D玻璃對玻璃等低相位差的雙折射分布測量,在測量過程中可以對視野范圍內(nèi)樣品一次測量,全面掌握應(yīng)力分布。
關(guān)于我們
公司簡介 企業(yè)文化產(chǎn)品分類
無掩模光刻系統(tǒng) 微區(qū)取樣系統(tǒng) 顯微鏡系列設(shè)備新聞文章
新聞中心 技術(shù)文章聯(lián)系我們
聯(lián)系方式 在線留言 地圖導(dǎo)航010-69798892
(全國服務(wù)熱線)北京市昌平區(qū)回龍觀西大街115號龍冠大廈614室
17600738803@163.com
關(guān)注公眾號
Copyright © 2026北京歐屹科技有限公司 All Rights Reserved 工信部備案號:京ICP備15048507號-3
技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml